全自動半自動探針臺可以將電探針、光學探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器/半導體測試系統配合來測試芯片/半導體器件。這些測試可以很簡單，例如連續性或隔離檢查，也可以很復雜，包括微電路的完整功能測試。可以在將晶圓鋸成單個管芯之前或之后進行測試。在晶圓級別的測試允許制造商在生產過程中多次測試芯片器件undefined，這可以提供有關哪些工藝步驟將缺陷引入最終產品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測試管芯，這在封裝成本相對于器件成本高的應用中很重要。探針臺還可以用于研發、產品開發和故障分析應用。
全自動半自動探針臺可以固定晶圓或芯片，并精確定位待測物。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中，并使用顯微鏡將探針頂端放置到待測物上的正確位置。一旦所有探針頂端都被設置在正確的位置，就可以對待測物進行測試。對于帶有多個芯片的晶圓，使用者可以抬起壓盤，壓盤將探針頭與芯片分開，然后將工作臺移到下一個芯片上，使用顯微鏡找到精確的位置，壓板降低后下一個芯片可以進行測試。半自動和全自動探針臺系統使用機械化工作臺和機器視覺來自動化這個移動過程，提高了探針臺生產率。
全自動半自動探針臺儲存方法：
1.運用完后需求留意保持清潔，盡量把灰塵吹干盡，以免灰塵將機械精細部件，光學部件，電學接觸面凈化，招致儀器精度降低。
2.探針臺機體清潔時，防止直接潑水清算，以無塵布悄悄擦拭并吹干即可。不可用硬物接觸機器，以免發作毛病或風險。
3.探針臺光學部件清潔時，可用鏡頭紙蘸*從兩頭向外悄悄的擦拭。*時易燃物，留意運用平安。
4.停電或臨時不必、外出游覽時，請將電源線插頭拔掉以維護機器壽命。
5.操作人員必需嚴格按要說明書操作，以保證數據的精確和儀器的正常運用。
