E5071C-010時(shí)域分析TDR功能 增強(qiáng)時(shí)域分析選件可對(duì)高速串行互連進(jìn)行全面表征，增強(qiáng)您對(duì)設(shè)計(jì)的信心，所有選件均可升級(jí)，保護(hù)您的投資

表面電阻率電導(dǎo)率測(cè)試增強(qiáng)時(shí)域分析選件可對(duì)高速串行互連進(jìn)行全面表征，增強(qiáng)您對(duì)設(shè)計(jì)的信心，所有選件均可升級(jí)，保護(hù)您的投資

PCB電路板介電常數(shù)測(cè)試提供 130 dB 寬廣的動(dòng)態(tài)范圍、8 ms 快速測(cè)量速度和 0.005 dB/℃ 溫度穩(wěn)定度，可改善測(cè)量精度、提高產(chǎn)品良率并增加設(shè)計(jì)裕量

SIPDR電阻率測(cè)試夾具用于測(cè)量超材料和電阻膜的表面阻抗，以及用于半導(dǎo)體晶片的電導(dǎo)率的非接觸式測(cè)量；可以測(cè)量的薄膜材料范圍包括表面阻抗Rs 20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導(dǎo)電聚合物薄膜。

SPDR介電測(cè)試夾具用于測(cè)量層狀介電材料的復(fù)介電常數(shù)，包括LTCC襯底以及沉積在低損耗介電襯底上的鐵電薄膜；